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簡單介紹:
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理
詳情介紹:

FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀

應(yīng)用說明:
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻 半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.

FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀描述:
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計參考國標(biāo)單晶硅物理測試方法及 A.S.T.M 標(biāo)準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響.
 

FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀參數(shù)資料

規(guī)格型號

FT-341

1.方塊電阻 

10^-52×10^5Ω/□

2.電阻率 

10^-62×10^6Ω-cm

3.測試電流 

0.1μA.μA.0μA100μA1mA10mA100mA

4.電流精度 

±0.1%

5.電阻精度 

≤0.3%

6.顯示讀數(shù)

屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率

7.測試方式

雙電測量

8.電源

輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30

9.誤差

3%(標(biāo)準樣片結(jié)果)

10.選購功能

選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標(biāo)準電阻.

11.測試探頭

探針間距選購:1mm2mm3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針

12.標(biāo)準電阻(選購)

規(guī)格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ

標(biāo)準配置外訂購明細:

序號

型號

品名

單位

數(shù)量

備注

1

340-CSX

測試線

1

 

2

09A

標(biāo)準電阻

1-5

選購規(guī)格和數(shù)量

3

06A

四探針測試平臺

1

含探頭1

4

06B

四探針探頭

1

方型或直線型選購

5

340-TTZ

鍍金彈簧銅針4

1

4根為一組

6

340-WTZ

彈簧鎢針4

1

4根為一組

7

340-RJ

分析軟件

1

 

8

PC

電腦+打印機

1

依據(jù)客戶要求配置

9

300-JL

檢測技術(shù)服務(wù)

1

計量證書1

10

WDCGQ

溫度傳感器

1

常溫-125

 

341-YB 

延保服務(wù)  

1-3

 

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