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FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀
應(yīng)用說明:
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜
導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測試硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻
半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導(dǎo)電薄膜(ITO導(dǎo)電膜玻璃等),金屬膜,導(dǎo)電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜,EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率
導(dǎo)電性油漆,導(dǎo)電性糊狀物,導(dǎo)電性塑料,導(dǎo)電性橡膠,導(dǎo)電性薄膜,金屬薄膜, EMI 防護材料,導(dǎo)電性纖維,導(dǎo)電性陶瓷等,提供中文或英文兩種語言操作界面選擇.
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀描述:
采用四探針組合雙電測量方法,液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數(shù)補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出;選配:PC軟件進行數(shù)據(jù)管理和處理.雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀器設(shè)計參考國標(biāo)單晶硅物理測試方法及 A.S.T.M
標(biāo)準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響.
FT-341雙電測四探針方阻電阻率測試儀參數(shù)資料
規(guī)格型號 |
FT-341 |
1.方塊電阻 |
10^-5~2×10^5Ω/□ |
2.電阻率 |
10^-6~2×10^6Ω-cm |
3.測試電流 |
0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100mA |
4.電流精度 |
±0.1% |
5.電阻精度 |
≤0.3% |
6.顯示讀數(shù) |
屏液晶顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導(dǎo)率 |
7.測試方式 |
雙電測量 |
8.電源 |
輸入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W |
9.誤差 |
≤3%(標(biāo)準樣片結(jié)果) |
10.選購功能 |
選購1.pc軟件; 選購2.方形探頭; 選購3.直線形探頭; 選購4.測試平臺;5.標(biāo)準電阻. |
11.測試探頭 |
探針間距選購:1mm;2mm;3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購:碳化鎢針;白鋼針;鍍金磷銅半球形針 |
12.標(biāo)準電阻(選購) |
規(guī)格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ |
標(biāo)準配置外訂購明細:
序號 |
型號 |
品名 |
單位 |
數(shù)量 |
備注 |
1 |
340-CSX |
測試線 |
套 |
1 |
|
2 |
09A |
標(biāo)準電阻 |
個 |
1-5 |
選購規(guī)格和數(shù)量 |
3 |
06A |
四探針測試平臺 |
套 |
1 |
含探頭1個 |
4 |
06B |
四探針探頭 |
個 |
1 |
方型或直線型選購 |
5 |
340-TTZ |
鍍金彈簧銅針4根 |
組 |
1 |
4根為一組 |
6 |
340-WTZ |
彈簧鎢針4根 |
組 |
1 |
4根為一組 |
7 |
340-RJ |
分析軟件 |
套 |
1 |
|
8 |
PC |
電腦+打印機 |
套 |
1 |
依據(jù)客戶要求配置 |
9 |
300-JL |
檢測技術(shù)服務(wù) |
份 |
1 |
計量證書1份 |
10 |
WDCGQ |
溫度傳感器 |
套 |
1 |
常溫-125度 |
|
341-YB |
延保服務(wù) |
年 |
1-3 |
|